近日，国家标准GB/T 44937.6-2025《集成电路电磁发射测量第6部分：传导发射测量 磁场探头法》发布，金山企业上海雷卯电子科技有限公司作为主导起草单位，全程参与标准的研制与编制工作。
据悉，该标准成功填补了国内芯片电磁兼容（EMC）测试领域的国标空白。相较于传统测试，新标准引入的磁场探头法，有效解决了传统测试效率低、可重复性差、测试成本高的行业痛点。
标准制定充分贴合集成电路设计、制造、应用全流程需求，整合前沿技术并广泛征求行业意见，既能助力芯片企业在研发阶段快速识别电磁干扰风险，从源头规避产品认证失败问题，也能显著缩短芯片上市周期。
依托这项新标准，上海雷卯自主研发了新型磁场探头测试系统，成功实现芯片EMI测试“可视化、高精度、快响应”的核心目标。该系统采用特殊磁芯材料的微型探头，可精准定位0.1mm精度的干扰源；配合自研的EMI可视化软件，还能实时生成芯片“电磁热力图”，让干扰点一目了然。相较于传统测试方法，新系统测试效率提升60%、测试成本降低40%，目前已在中兴、海康、汉邦等多家知名企业实现小规模落地应用，为国产芯片高质量、快速认证注入新动能。
据悉，上海雷卯成立于2011年，深耕电磁兼容（EMC）领域十余载，是国内知名电路保护元器件和连接器解决方案提供商。公司专注电磁兼容相关产品研发推广，自主生产防护器件并自建实验室提供测试服务，相关方案与系统广泛应用于多领域。
截至目前，上海雷卯已先后主导或参与制定2项国家标准和多项行业团体标准；获得国内授权发明专利十余项、实用新型专利四十余项，技术创新实力雄厚。公司自2018年起连续获评市高新技术企业，2023年被认定为上海市“专精特新”中小企业。